電腦模擬實驗存在哪些誤差

1. 實驗誤差有哪些因素造成的呢

線刻度標准器支點在其全長之0.5594位置，其全長彎曲誤差量為最小，此處稱之為貝塞爾點(BesselPoints)誤差測量因素測量時，因儀器設計或擺置不良等所造成的誤差。誤差的來源 一個客觀存在的具有一定數值的被測成分的物理量，稱為真實值，測定值與真實值之差稱為誤差。根據產生誤差的原因，通常分為兩類，即系統誤差和偶然誤差。系統誤差是由固定原因造成的誤差，在測定的過程中按一定規律重復出現，有一定的方同性，即測定值總是偏高或總是偏低，這種誤差的大小是可測的，所以又稱「可測誤差」。它來源於分析方法誤差、儀器誤差、試劑誤差和主觀誤差，如分析人員掌握操作規程與操作條件等因素。偶然誤差是由於一些偶然的外因所引起的誤差，產生的原因往往是不固定的、未知的，且大小不一、或正或負，其大小是不可測的，這類誤差的來源往往一時難於覺察，可能是由於環境(氣壓、溫度、濕度)等的偶然波動或儀器的性能、分析人員對各份試樣處理時不一致所產生的。

2. Multisim模擬電路，電路誤差分析

Multisim是一種功能比較強大的電子電路模擬軟體，利用Multisim軟體可以使設計與模擬同步，一邊設計一邊實踐，修改調試也比較方便；模擬實驗中又不消耗實際的元器件和損傷測試儀器，試驗成本極低，試驗速度極快；模擬試驗成功的電路可以直接在產品中使用。

首先利用該軟體驗證了幾個典型的單元電路,包括基本放大電路研究、放大電路中的負反饋、功率放大電路、波形發生電路和濾波電路；其中重點研究了濾波器電路，先進行理論推導，再模擬典型的多路負反饋二階低通濾波節，測試出其通頻帶，用軟體畫出其幅頻特性曲線，再給出原理電路圖，然後製作出實際電路板，進行實際測量。得出的結論與模擬結果基本一致，僅存在很小的誤差，最後就實際與模擬的微小誤差給出簡單的解釋。

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Multisim提煉了SPICE模擬的復雜內容，這樣工程師無需懂得深入的SPICE技術就可以很快地進行捕獲、模擬和分析新的設計，這也使其更適合電子學教育。

通過Multisim和虛擬儀器技術，PCB設計工程師和電子學教育工作者可以完成從理論到原理圖捕獲與模擬再到原型設計和測試這樣一個完整的綜合設計流程。

而且Multisim 9計算機模擬與虛擬儀器技術（LABⅥEW 8）（也是美國NI公司的）可以很好的解決理論教學與實際動手實驗相脫節的這一老大難問題。學員可以很好地、很方便地把剛剛學到的理論知識用計算機模擬真實的再現出來。

3. 學位論文中模擬結果和實驗結果的誤差允許范圍是多少，什麼情況下認為這個是可信的

誤差一般是相對基準值或一組數據的平均值。

各個高校的標准都不一樣，一般高校將重合度30%以上定為抄襲的文章，即論文審核不通過。教育部2012年11月13日出台的《學位論文作假行為處理辦法》規定：論文查重率高者，將面臨取消學位申請資格、注銷學位證書、開除學籍等處分。

自該辦法實施以來，為保證畢業論文質量，杜絕抄襲剽竊，許多高校都會對畢業生論文進行抄襲率檢測。如果論文中的段落相似度達到30%以上，即定為不合格，不能參加畢業答辯，要求重寫或修改。

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論文檢測需要搜索引擎技術作為支撐，包括資源採集技術，文本資料庫加工技術，文本資料庫技術,數字資源版權保護技術,知識挖掘技術,自然語言處理技術、快速比對技術等。

在全文數據的基礎上實現快速准確的檢測，上述技術是基本的保證。另外，檢測比對庫里需要收錄期刊、學位論文、會議論文、報紙、年鑒、工具書、專利、外文文獻、學術文獻引文等與科學研究、學習相關的主要資源。

4. 用數值模擬出來的結果和實際的誤差一般是多少啊

在工程應用上，通常數值模擬結果和實驗（試驗）結果之間的誤差在±20%以內認為是可以接受的。誤差分析的方法很多，曾見過一篇採用函數分析法來分析誤差的方法，好像可以分析試驗曲線與數值模擬曲線之間線型的差別。

5. 實驗誤差來源有哪些

1.人為因素
由於人為因素所造成的誤差,包括誤讀、誤算和視差等.而誤讀常發生在游標尺、分厘卡等量具.游標尺刻度易造成誤讀一個最小讀數,如在10.00 mm處常誤讀成10.02 mm或9.98 mm.分厘卡刻度易造成誤讀一個螺距的大小,如在10.20 mm常誤讀成10.70 mm或9.70 mm.誤算常在計算錯誤或輸入錯誤數據時所發生.視差常在讀取測量值的方向不同或刻度面不在同一平面時所發生,兩刻度面相差約在0.0.4 mm之間,若讀取尺寸在非垂直於刻度面時,即會產生 的誤差量.為了消除此誤差,製造量具的廠商將游尺的刻劃設計成與本尺的刻劃等高或接近等高,(游尺刻劃有圓弧形形成與本尺刻劃幾近等高,游尺為凹V形且本尺為凸V形,因此形成兩刻劃等高.
2.量具因素
由於量具因素所造成的誤差,包括刻度誤差、磨耗誤差及使用前未經校正等因素.刻度分劃是否准確,必須經由較精密的儀器來校正與追溯.量具使用一段時間後會產生相當程度磨耗,因此必須經校正或送修方能再使用.
3.力量因素
由於測量時所使用接觸力或接觸所造成撓曲的誤差.依據虎克定律,測量尺寸時,如果以一定測量力使測軸與機件接觸,則測軸與機件皆會局部或全面產生彈性變形,為防止此種彈性變形,測軸與機件應采相同材料製成.其次,依據赫茲 (Hertz) 定律,若測軸與機件均採用鋼時,其彈性變形所引起的誤差量
應用量表測量工件時,量表固定於支持上,支架因被測量力會造成彈性變形,如圖2-4-3所示,在長度 的斷面二次矩為 ,長 的支柱為 ,縱彈性系數分別為 、 ,因此測量力為P時,撓曲量 為 .為了防止此種誤差,可將支柱增大並盡量縮短測量軸線伸出的長度.除此之外,較大型量具如分厘卡、游標尺、直規和長量塊等,因本身重量與負載所造成的彎曲.通常,端點標准器在兩端面與垂直線平行的支點位置為0.577全長時,其兩端面可保持平行,此支點稱之為愛里點 (Airey Points) .線刻度標准器支點在其全長之0.5594位置,其全長彎曲誤差量為最小,此處稱之為貝塞爾點 (Bessel Points)
4.測量因素
測量時,因儀器設計或擺置不良等所造成的誤差,包括餘弦誤差、阿貝誤差等.餘弦誤差是發生在測量軸與待測表面成一定傾斜角度 ,如圖2-4-5所示其誤差量為 ,為實際測量長度.通常,餘弦誤差會發生在兩個測量方向,必須特別小心.例如測量內孔時,徑向測量尺寸需取最大尺寸,軸向測量需取最小尺寸.同理,測量外側時,也需注意取其正確位置.測砧與待測工件表面必須小心選用,如待測工件表面為平面時需選用球狀之測砧、工件為圓柱或圓球形時應選平面之測砧.阿貝原理 (Abbe』 Law) 為測量儀器的軸線與待測工件之軸線需在一直在線.否則即產生誤差,此誤差稱為阿貝誤差.通常,假如測量儀器之軸線與待測工件之軸線無法在一起時,則需盡量縮短其距離,以減少其誤差值.若以游標尺測量工件為例,如圖2-4-6所示,其誤差為 ,因此欲減少游標尺測量誤差,需將本尺與游尺之間隙所造成之 角減小及測量時應盡量靠近刻度線.若以量表測量工件為例,如圖2-4-7所示其量表之探針為球形,工件為圓柱,兩軸心有偏位量 時,其接觸的誤差量為 .若量表之探針和工件均為平面時,若兩平面傾斜一定角度 時,其接觸的誤差量為 如圖2-4-8所示,此誤差稱為正弦誤差.圖2-4-9所示為凸輪在機構設計的誤差分析圖,為了減少磨損,常將從動件的端頭設計成半徑為 的圓球或圓柱體,兩者間的壓力角為 ,因此引起誤差為.
5.環境因素
測量時受環境或場地之不同,可能造成的誤差有熱變形誤差和隨機誤差為最顯著.熱變形誤差通常發生於因室溫、人體接觸及加工後工件溫度等情形下,因此必須在溫濕度控制下,不可用手接觸工件及量具、工件加工後待冷卻後才測量.但為了縮短加工時在加工中需實時測量,因此必須考慮各種材料之熱脹系數 作為補償,以因應溫度材料的熱膨脹系數 不同所造成的誤差.

6. 實驗誤差有哪些因素造成

實驗誤差的因素人為因素、量具因素、力量因素、測量因素。

1、人為因素

由於人為因素所造成的誤差，包括誤讀、誤算和視差等。而誤讀常發生在游標尺、分厘卡等量具，游標尺刻度易造成誤讀一個最小讀數。如在10.00 mm處常誤讀成10.02 mm或9.98 mm，分厘卡刻度易造成誤讀一個螺距的大小，如在10.20 mm常誤讀成10.70 mm或9.70 mm。

2、量具因素

由於量具因素所造成的誤差，包括刻度誤差、磨耗誤差及使用前未經校正等因素。刻度分劃是否准確,必須經由較精密的儀器來校正與追溯，量具使用一段時間後會產生相當程度磨耗，因此必須經校正或送修方能再使用。

3、力量因素

由於測量時所使用接觸力或接觸所造成撓曲的誤差，依據虎克定律,測量尺寸時，如果以一定測量力使測軸與機件接觸，則測軸與機件皆會局部或全面產生彈性變形，為防止此種彈性變形，測軸與機件應采相同材料製成。

4、測量因素

測量時因儀器設計或擺置不良等所造成的誤差，包括餘弦誤差、阿貝誤差等。

7. 實驗誤差由哪些因素造成

試驗時造成誤差的因素通常可以考慮以下幾個方面的因素：
1、人，不同的人進行同一個試驗時，因為手法上的細微不同都會造成試驗結果上的誤差。因此通常在不要大量手動操作的試驗中，需要由同一個人來操作，這樣出來的數據才比較有可比性；
2、機，設備儀器，這里就要考慮試驗儀器本身是否存在著誤差。通常實驗室的儀器設備每年都要進行校準檢定。試驗前，你可以拿標准物質對設備進行核查，看設備的精度和誤差是否滿足試驗本身的需要；
3、物，試驗樣品，通常試驗前樣品都要經過狀態調節，以便試驗樣品達到穩定的物性狀態。建議將樣品放在23攝氏度，50％的環境中暴露存放24小時以上；
4、法，試驗方法，考慮試驗過程當中是否有某些細節導致試驗結果有誤差，在這點上視具體情況而定，這里無法做更詳細的說明。
5、環，測試環境，環境狀態的不穩定也會導致試驗結果的偏差，通常實驗室環境要求溫度保持在23攝氏度正負2攝氏度，濕度為50％正負5％。
綜合以上幾點，基本上可以減小試驗結果的誤差，但誤差是無法完全避免的。
如果有興趣你可以在網上找一下有關實驗室不確定度評定的相關要求，這對減小試驗結果誤差會有所幫助。

8. multisim模擬在實際電路圖又大多誤差

multisim上都是理想元件，你在實際的硬體電路中要注意元件是否完好、考慮各元件之間的參數誤差，並且元器件參數誤差只是一個次要區別，關鍵是數學建模。Multisim及類似電路模擬軟體都是用元器件物理數學模型進行計算後得出的結果在加以顯示。最主要的誤差來自於pn結正向壓降的被忽略，以及晶體管飽和壓降等的被忽略。例如，用運放、電阻及二極體組成的絕對值電路，輸入正弦電壓時，實際由於pn結正向壓降，輸出的是一高一低類似楓葉的直流脈動電壓，但是Multisim模擬結果卻是與橋式整流一樣的波形！

參見：http://..com/link?url=lKqhnUFGJV-JuyExb3iTqyHxEC28ohmGCFle2f-A9tcpCMRQ9qOeS7mhHsO1-Tlbjjd0_jeLkMwAl8rq_YxdS_

9. 實驗的誤差有哪些

（1）系統誤差：由於儀器結構上不夠完善或儀器未經很好校準等原因會產生誤差。影響准確度。
（2）隨機誤差：在相同條件下，對同一物理量進行多次測量，由於各種偶然因素，會出現測量值時而偏大，時而偏小的誤差現象。影響精確度。