电脑仿真实验存在哪些误差

1. 实验误差有哪些因素造成的呢

线刻度标准器支点在其全长之0.5594位置，其全长弯曲误差量为最小，此处称之为贝塞尔点(BesselPoints)误差测量因素测量时，因仪器设计或摆置不良等所造成的误差。误差的来源 一个客观存在的具有一定数值的被测成分的物理量，称为真实值，测定值与真实值之差称为误差。根据产生误差的原因，通常分为两类，即系统误差和偶然误差。系统误差是由固定原因造成的误差，在测定的过程中按一定规律重复出现，有一定的方同性，即测定值总是偏高或总是偏低，这种误差的大小是可测的，所以又称“可测误差”。它来源于分析方法误差、仪器误差、试剂误差和主观误差，如分析人员掌握操作规程与操作条件等因素。偶然误差是由于一些偶然的外因所引起的误差，产生的原因往往是不固定的、未知的，且大小不一、或正或负，其大小是不可测的，这类误差的来源往往一时难于觉察，可能是由于环境(气压、温度、湿度)等的偶然波动或仪器的性能、分析人员对各份试样处理时不一致所产生的。

2. Multisim仿真电路，电路误差分析

Multisim是一种功能比较强大的电子电路仿真软件，利用Multisim软件可以使设计与仿真同步，一边设计一边实践，修改调试也比较方便；仿真实验中又不消耗实际的元器件和损伤测试仪器，试验成本极低，试验速度极快；仿真试验成功的电路可以直接在产品中使用。

首先利用该软件验证了几个典型的单元电路,包括基本放大电路研究、放大电路中的负反馈、功率放大电路、波形发生电路和滤波电路；其中重点研究了滤波器电路，先进行理论推导，再仿真典型的多路负反馈二阶低通滤波节，测试出其通频带，用软件画出其幅频特性曲线，再给出原理电路图，然后制作出实际电路板，进行实际测量。得出的结论与仿真结果基本一致，仅存在很小的误差，最后就实际与仿真的微小误差给出简单的解释。

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Multisim提炼了SPICE仿真的复杂内容，这样工程师无需懂得深入的SPICE技术就可以很快地进行捕获、仿真和分析新的设计，这也使其更适合电子学教育。

通过Multisim和虚拟仪器技术，PCB设计工程师和电子学教育工作者可以完成从理论到原理图捕获与仿真再到原型设计和测试这样一个完整的综合设计流程。

而且Multisim 9计算机仿真与虚拟仪器技术（LABⅥEW 8）（也是美国NI公司的）可以很好的解决理论教学与实际动手实验相脱节的这一老大难问题。学员可以很好地、很方便地把刚刚学到的理论知识用计算机仿真真实的再现出来。

3. 学位论文中仿真结果和实验结果的误差允许范围是多少，什么情况下认为这个是可信的

误差一般是相对基准值或一组数据的平均值。

各个高校的标准都不一样，一般高校将重合度30%以上定为抄袭的文章，即论文审核不通过。教育部2012年11月13日出台的《学位论文作假行为处理办法》规定：论文查重率高者，将面临取消学位申请资格、注销学位证书、开除学籍等处分。

自该办法实施以来，为保证毕业论文质量，杜绝抄袭剽窃，许多高校都会对毕业生论文进行抄袭率检测。如果论文中的段落相似度达到30%以上，即定为不合格，不能参加毕业答辩，要求重写或修改。

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论文检测需要搜索引擎技术作为支撑，包括资源采集技术，文本数据库加工技术，文本数据库技术,数字资源版权保护技术,知识挖掘技术,自然语言处理技术、快速比对技术等。

在全文数据的基础上实现快速准确的检测，上述技术是基本的保证。另外，检测比对库里需要收录期刊、学位论文、会议论文、报纸、年鉴、工具书、专利、外文文献、学术文献引文等与科学研究、学习相关的主要资源。

4. 用数值模拟出来的结果和实际的误差一般是多少啊

在工程应用上，通常数值模拟结果和实验（试验）结果之间的误差在±20%以内认为是可以接受的。误差分析的方法很多，曾见过一篇采用函数分析法来分析误差的方法，好像可以分析试验曲线与数值模拟曲线之间线型的差别。

5. 实验误差来源有哪些

1.人为因素
由于人为因素所造成的误差,包括误读、误算和视差等.而误读常发生在游标尺、分厘卡等量具.游标尺刻度易造成误读一个最小读数,如在10.00 mm处常误读成10.02 mm或9.98 mm.分厘卡刻度易造成误读一个螺距的大小,如在10.20 mm常误读成10.70 mm或9.70 mm.误算常在计算错误或输入错误数据时所发生.视差常在读取测量值的方向不同或刻度面不在同一平面时所发生,两刻度面相差约在0.0.4 mm之间,若读取尺寸在非垂直于刻度面时,即会产生 的误差量.为了消除此误差,制造量具的厂商将游尺的刻划设计成与本尺的刻划等高或接近等高,(游尺刻划有圆弧形形成与本尺刻划几近等高,游尺为凹V形且本尺为凸V形,因此形成两刻划等高.
2.量具因素
由于量具因素所造成的误差,包括刻度误差、磨耗误差及使用前未经校正等因素.刻度分划是否准确,必须经由较精密的仪器来校正与追溯.量具使用一段时间后会产生相当程度磨耗,因此必须经校正或送修方能再使用.
3.力量因素
由于测量时所使用接触力或接触所造成挠曲的误差.依据虎克定律,测量尺寸时,如果以一定测量力使测轴与机件接触,则测轴与机件皆会局部或全面产生弹性变形,为防止此种弹性变形,测轴与机件应采相同材料制成.其次,依据赫兹 (Hertz) 定律,若测轴与机件均采用钢时,其弹性变形所引起的误差量
应用量表测量工件时,量表固定于支持上,支架因被测量力会造成弹性变形,如图2-4-3所示,在长度 的断面二次矩为 ,长 的支柱为 ,纵弹性系数分别为 、 ,因此测量力为P时,挠曲量 为 .为了防止此种误差,可将支柱增大并尽量缩短测量轴线伸出的长度.除此之外,较大型量具如分厘卡、游标尺、直规和长量块等,因本身重量与负载所造成的弯曲.通常,端点标准器在两端面与垂直线平行的支点位置为0.577全长时,其两端面可保持平行,此支点称之为爱里点 (Airey Points) .线刻度标准器支点在其全长之0.5594位置,其全长弯曲误差量为最小,此处称之为贝塞尔点 (Bessel Points)
4.测量因素
测量时,因仪器设计或摆置不良等所造成的误差,包括余弦误差、阿贝误差等.余弦误差是发生在测量轴与待测表面成一定倾斜角度 ,如图2-4-5所示其误差量为 ,为实际测量长度.通常,余弦误差会发生在两个测量方向,必须特别小心.例如测量内孔时,径向测量尺寸需取最大尺寸,轴向测量需取最小尺寸.同理,测量外侧时,也需注意取其正确位置.测砧与待测工件表面必须小心选用,如待测工件表面为平面时需选用球状之测砧、工件为圆柱或圆球形时应选平面之测砧.阿贝原理 (Abbe’ Law) 为测量仪器的轴线与待测工件之轴线需在一直在线.否则即产生误差,此误差称为阿贝误差.通常,假如测量仪器之轴线与待测工件之轴线无法在一起时,则需尽量缩短其距离,以减少其误差值.若以游标尺测量工件为例,如图2-4-6所示,其误差为 ,因此欲减少游标尺测量误差,需将本尺与游尺之间隙所造成之 角减小及测量时应尽量靠近刻度线.若以量表测量工件为例,如图2-4-7所示其量表之探针为球形,工件为圆柱,两轴心有偏位量 时,其接触的误差量为 .若量表之探针和工件均为平面时,若两平面倾斜一定角度 时,其接触的误差量为 如图2-4-8所示,此误差称为正弦误差.图2-4-9所示为凸轮在机构设计的误差分析图,为了减少磨损,常将从动件的端头设计成半径为 的圆球或圆柱体,两者间的压力角为 ,因此引起误差为.
5.环境因素
测量时受环境或场地之不同,可能造成的误差有热变形误差和随机误差为最显着.热变形误差通常发生于因室温、人体接触及加工后工件温度等情形下,因此必须在温湿度控制下,不可用手接触工件及量具、工件加工后待冷却后才测量.但为了缩短加工时在加工中需实时测量,因此必须考虑各种材料之热胀系数 作为补偿,以因应温度材料的热膨胀系数 不同所造成的误差.

6. 实验误差有哪些因素造成

实验误差的因素人为因素、量具因素、力量因素、测量因素。

1、人为因素

由于人为因素所造成的误差，包括误读、误算和视差等。而误读常发生在游标尺、分厘卡等量具，游标尺刻度易造成误读一个最小读数。如在10.00 mm处常误读成10.02 mm或9.98 mm，分厘卡刻度易造成误读一个螺距的大小，如在10.20 mm常误读成10.70 mm或9.70 mm。

2、量具因素

由于量具因素所造成的误差，包括刻度误差、磨耗误差及使用前未经校正等因素。刻度分划是否准确,必须经由较精密的仪器来校正与追溯，量具使用一段时间后会产生相当程度磨耗，因此必须经校正或送修方能再使用。

3、力量因素

由于测量时所使用接触力或接触所造成挠曲的误差，依据虎克定律,测量尺寸时，如果以一定测量力使测轴与机件接触，则测轴与机件皆会局部或全面产生弹性变形，为防止此种弹性变形，测轴与机件应采相同材料制成。

4、测量因素

测量时因仪器设计或摆置不良等所造成的误差，包括余弦误差、阿贝误差等。

7. 实验误差由哪些因素造成

试验时造成误差的因素通常可以考虑以下几个方面的因素：
1、人，不同的人进行同一个试验时，因为手法上的细微不同都会造成试验结果上的误差。因此通常在不要大量手动操作的试验中，需要由同一个人来操作，这样出来的数据才比较有可比性；
2、机，设备仪器，这里就要考虑试验仪器本身是否存在着误差。通常实验室的仪器设备每年都要进行校准检定。试验前，你可以拿标准物质对设备进行核查，看设备的精度和误差是否满足试验本身的需要；
3、物，试验样品，通常试验前样品都要经过状态调节，以便试验样品达到稳定的物性状态。建议将样品放在23摄氏度，50％的环境中暴露存放24小时以上；
4、法，试验方法，考虑试验过程当中是否有某些细节导致试验结果有误差，在这点上视具体情况而定，这里无法做更详细的说明。
5、环，测试环境，环境状态的不稳定也会导致试验结果的偏差，通常实验室环境要求温度保持在23摄氏度正负2摄氏度，湿度为50％正负5％。
综合以上几点，基本上可以减小试验结果的误差，但误差是无法完全避免的。
如果有兴趣你可以在网上找一下有关实验室不确定度评定的相关要求，这对减小试验结果误差会有所帮助。

8. multisim仿真在实际电路图又大多误差

multisim上都是理想元件，你在实际的硬件电路中要注意元件是否完好、考虑各元件之间的参数误差，并且元器件参数误差只是一个次要区别，关键是数学建模。Multisim及类似电路仿真软件都是用元器件物理数学模型进行计算后得出的结果在加以显示。最主要的误差来自于pn结正向压降的被忽略，以及晶体管饱和压降等的被忽略。例如，用运放、电阻及二极管组成的绝对值电路，输入正弦电压时，实际由于pn结正向压降，输出的是一高一低类似枫叶的直流脉动电压，但是Multisim仿真结果却是与桥式整流一样的波形！

参见：http://..com/link?url=lKqhnUFGJV-JuyExb3iTqyHxEC28ohmGCFle2f-A9tcpCMRQ9qOeS7mhHsO1-Tlbjjd0_jeLkMwAl8rq_YxdS_

9. 实验的误差有哪些

（1）系统误差：由于仪器结构上不够完善或仪器未经很好校准等原因会产生误差。影响准确度。
（2）随机误差：在相同条件下，对同一物理量进行多次测量，由于各种偶然因素，会出现测量值时而偏大，时而偏小的误差现象。影响精确度。